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意学者:CRT-D置入后远期不良事件发生率较高

文章来源:医学论坛网发布日期:2011-05-24浏览次数:52454

意大利学者的一项研究表明,在当前的临床实践中,心室再同步心脏转复除颤器(CRT-D)置入后的装置相关性事件多于单腔或双腔起搏器植入后事件,前者进行手术修正的频率亦较高。但此类事件与不良临床转归似乎无关。论文于2011年5月16日发表于《循环》(Circulation)杂志。
  在接受CRT-D置入治疗的患者中,有关装置相关性不良事件的远期资料相当匮乏。此项研究从117个意大利中心中纳入了3253例首次接受CRT-D成功置入的患者,并对其进行了中位18个月的随访。
  结果显示,共有416例患者报告出现装置相关性事件,其中有390例患者接受了手术干预治疗。置入装置4年后,分别有50%和14%的患者因电池耗竭和预期外事件而行手术修正。作为对照,在上述中心内接受单腔和双腔除颤器置入者的4年电池耗竭率分别为10%和13%,预期外事件报告率分别为4%和9%。在CRT-D治疗者中,感染发生率为1.0%/年,并且感染风险在装置更换操作后升高(危险比为2.04;P=0.045)。左心室导线脱位的发生率为2.3%/年,并且可由置入时荧光透视时间较长和起搏阈值较高进行预测。装置相关性事件与不良临床转归无相关性,接受和未接受手术修正患者的死亡风险基本相似(危险比0.90;P=0.682)。
2011年05月24日