外显子测序揭示小脑共济失调的致病基因

我国科学家应用外显子组测序技术进行单基因病研究获得一项突破，对促进国内单基因病研究的发展具有重要意义。近日，由深圳华大基因研究院、中南大学湘雅医院等单位合作研究“利用全外显子组测序技术发现小脑共济失调新的致病基因TGM6”在国际知名杂志《Brain》上在线发表。

　　小脑共济失调是一种常染色体显性遗传的神经系统疾病，疾病临床常表现为运动失调。该研究对患有小脑共济失调的同一家系4个患者进行了全外显子组测序，在每个患者的外显子区域平均检测到约5800个潜在影响基因功能的变异，包括非同义突变（NS）、剪切位点突变（SS）和插入缺失突变（Indel），其中包含了大量的罕见变异。研究人员通过生物信息学分析，将候选致病基因突变锁定为TGM6基因第10外显子保守区域的一个错义突变。进一步研究发现，在另一个患有该病的家系里，TGM6基因同样存在错义突变，从而证实TGM6基因是小脑共济失调家族的新致病基因，属于SCA23亚型。该研究还对测序的家系同步进行了定位克隆，通过连锁分析将致病位点定位在20号染色体短臂的8.4Mb的区域，该区域包含了91个基因，TGM6基因正是其中之一。

　　应用传统的定位克隆方法只能将候选致病基因定位到基因组上的一段区域，并不能确定致病基因。而外显子组测序技术不仅可以直接检测到包括罕见突变在内的大量突变，还能进一步通过生物信息分析确定候选致病基因。TGM6基因的发现，对今后阐明该病发病机制、遗传诊断和新药研发具有重要的研究和应用价值。

　　华大基因于今年5月启动了“千种单基因病计划”，希望通过与国内外单基因病研究领域的科学家合作，促进单基因病研究的发展。